目前我們生產(chǎn)的單片機(jī)系統(tǒng)可以分為軟件和硬件兩個(gè)方面，那么單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性測(cè)試就必須從這兩方面入手。首先在設(shè)計(jì)單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)，就應(yīng)該充分考慮到外部的各種各樣可能干擾，盡量利用單片機(jī)提供的一切手段去割斷或者解決**外部干擾造成的影響。

當(dāng)一個(gè)單片機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)完成，對(duì)于不同的單片機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)品會(huì)有不同的測(cè)試項(xiàng)目和方法，但是有一些是必須測(cè)試的。

測(cè)試單片機(jī)軟件功能的完善性。這是針對(duì)所有單片機(jī)系統(tǒng)功能的測(cè)試，測(cè)試軟件是否寫(xiě)的正確完整。

上電掉電測(cè)試。在使用中用戶必然會(huì)遇到上電和掉電的情況，可以進(jìn)行多次開(kāi)關(guān)電源，測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。

老化測(cè)試。測(cè)試在長(zhǎng)時(shí)間工作情況的下，單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。必要的話可以放置在高溫，高壓以及強(qiáng)電磁干擾的下測(cè)試。

ESD和EFT等測(cè)試?？梢允褂酶鞣N干擾模擬器來(lái)對(duì)單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性測(cè)試。例如使用靜電模擬器測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的抗靜電ESD能力；使用突波雜訊模擬器進(jìn)行快速脈沖抗干擾EFT測(cè)試等等。