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EMI傳導和輻射測試儀
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近場探頭
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產品簡單介紹
近場探頭
PS-400
PS-400近場探頭是一款由**探頭，寬帶探頭，H場探頭和探頭箱組成的近場探頭組。此款產品性能以及易用性優良。其獨特的設計使得由于手握位置和電纜布置造成的過于狹小或者難以到達的位置能通過此款探頭組進行測試。
近場探頭
Beehive 101A
配合BEEHIVE 近場探頭使用，近場測試的目的是為了找到電磁干擾的源頭，對于信號比較微弱的場合，Beehive 101A近場探頭增加前置放大器，可以大大提高系統測試的靈敏度。
微型近場探頭組
MFA 01
MFA 01微型近場探頭組的分辨率高，在磁場測量方面性能優異。MFA 01微型近場探頭組可以測量頻率范圍在6GHz以下的磁場。
射頻H場測試探頭
P1602和P1702
射頻H場測試探頭P1602和P1702用于電路板上電磁近場的射頻測試。用探頭測試到電壓說明 電路板受到 H 場刺激。射頻H場測試探頭P1602和P1702通過一個隔離環，探頭放置于距離電路板 3米或者 10 米的固定位置。
近場探頭套件
N9311X-100
N9311X-100近場探頭套件中提供了磁場探頭、近場探頭等，N9311X-100 近場探頭套件主要是用于探測印刷電路板、模塊、元器件、集成電路和電磁干擾源所產生的輻射發射。
近場探頭組
XF1
近場探頭組XF1是由4個磁場探頭和1個電場探頭組成，近場探頭組XF1的頻率范圍30MHz ～ 6GHz。
近場探頭
SX
近場探頭SX有電子屏蔽探針頭，特別設計用于上限頻率范圍10GHz。這些被動近場探頭SX 沒有前置放大器，并且通過SMA連接器連接到光學分析儀上。
EFT注入探頭
P250
P250型EFT注入探頭按照IED 62215-3標準在集成電路進行脈沖群耦合。EFT注入探頭P250與脈沖群發生器（IEC 61000-4-4）相連。借助可換的探針，可以通過不同的耦合電容，把干擾脈沖作用到受測的集成電路引腳上。
近場探頭組
LF1
LF1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭，LF1近場探頭組主要用于在研發階段測量電子模塊上長波、中波和短波區的射頻磁場。
射頻注入探頭
P500系列
P500型射頻注入探頭按照IEC 62132-4標準在集成電路引腳中進行射頻供電。當施加干擾時能夠在集成的測量輸出端口分別測量電流和電壓。P500型射頻注入探頭工作時與一個功率放大器相連。
射頻注入探頭
P500
射頻注入探頭P500來自功率放大器的射頻干擾通過探頭流向被測針腳，同時在探頭**進行電流和電壓的測量。射頻注入探頭P500可以記錄下的參數可以繪制IC的EMC特性，得出更正確的結論。大電流時，因磁性原因產生功能故障，大電壓時，因耦合電容產生故障。
近場探頭
EM5030 （30MHz～3GHz）高頻磁場探頭
EM5030/EM5030LF系列近場探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030近場探頭的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF近場探頭的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。
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